专利名称：存储卡自动测试装置及其测试工艺专利类型：发明专利发明人：陈黎敏
申请号：CN201810501637.7申请日：20180523公开号：CN108962334A公开日：20181207
摘要：存储卡自动测试装置，包括工作台，工作台上安装有控制器，所述上安装有进料流水线和出料包装流水线，其特征在于，所述进料流水线和出料包装流水线之间安装有通过电机带动运动的摆动架，所述摆动架上安装有取料吸手，所述摆动架的前方中间安装有旋转工件台，所述旋转工件台的左侧依次安装有两个过渡工件台和测试工件台，旋转工件台的右侧设有两个导轨二，其中：测试工件台相邻进料流水线布设，有导轨二相邻出料包装流水线布设；本发明的有益效果：本发明利用合理的结构设计，可以自动进料，自动测试，最低剔除不合格工件，自动送入包装，全程机测试包装一体化，智能化程度高，使生产效率大大提高，适合推广使用。
申请人：常州信息职业技术学院
地址：213000 江苏省常州市武进区鸣新中路22号
国籍：CN
代理机构：上海精晟知识产权代理有限公司
代理人：冯子玲
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