专利名称：一种基于Firm阈值迭代的电学层析成像稀疏重建方
法
专利类型：发明专利发明人：许燕斌,王正,董峰申请号：CN201610866927.2申请日：20160929公开号：CN106530367A公开日：20170322
摘要：本发明涉及一种基于Firm阈值迭代的电学层析成像稀疏重建方法，用于非连续介质的电学层析成像，该方法将电学层析成像问题看作求解一个线性不适定问题，确定目标函数；重建方法为：根据被测场域，获取重建所需的相对边界测量值向量和灵敏度矩阵；设置初始化参数；进行加速预处理；根据上一循环中计算得到的正则化参数，即本次阈值迭代计算中所选择的阈值大小，对经过加速处理后的上一步迭代结果进行阈值迭代计算；计算本次迭代得到的解中非零元素的个数，更新稀疏度；判断迭代是否结束；根据最终求解所得灰度值，进行成像。本发明提高了算法的适用性和易用性，扩展了稀疏重建方法的应用范围。
申请人：天津大学
地址：300072 天津市南开区卫津路92号
国籍：CN
代理机构：天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人：程毓英
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