专利名称：一种低温测试装置及测试方法专利类型：发明专利
发明人：史洪波,王雷,张秋香,郭齐运申请号：CN201310740500.4申请日：20131227公开号：CN104749452A公开日：20150701
摘要：本发明适用于电子产品的测试技术领域，公开了一种低温测试装置及测试方法。上述低温测试装置包括制冷剂供应装置、容器和温度探测装置，所述容器通过输入管连接于所述制冷剂供应装置，所述容器上还连接有与外界相通的输出管。上述测试方法包括以下步骤，将容器的底部抵压于待测试的器件上；制冷剂供应装置通过输入管将制冷剂输入容器中，增大制冷剂的流量进一步降低待测试器件的温度，直到所述器件失效并记录所述器件失效时温度探测装置读取的温度。本发明所提供一种低温测试装置及测试方法，其可以有效、方便、准确地对局部器件进行低温可靠性测试，测试精确度佳。
申请人：研祥智能科技股份有限公司
地址：518057 广东省深圳市南山区高新中四道31号研祥科技大厦
国籍：CN
代理机构：深圳中一专利商标事务所
代理人：张全文
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