专利名称：一种光路集成测试平台及基于该平台实现的光通道
集成测试方法
专利类型：发明专利
发明人：韩嫚莉,俞大磊,刘婷婷,王明,王纯委,袁迹申请号：CN201711118447.9申请日：20171113公开号：CN109347548A公开日：20190215
摘要：本发明一种光路集成测试平台及基于该平台实现的光通道集成测试方法属于综合处理平台光纤接口测试技术领域。本发明包括FC仿真卡通信测试、光通道物理层信号质量测试、测试电路自检测功能三部分的功能。FC仿真卡通信测试：通过FC仿真卡实现所有光通道的通信测试；光通道物理层信号质量测试：实现所有光通道发送端口的光功率测试和接收端口的光灵敏度测试；测试电路自检测功能：具备一定的FC仿真卡、光衰减器的初步自诊断的能力。本发明基于光开关智能控制平台，从光通路信号质量和光通路实际应用对接口进行了全面必要的测试，解决了综合处理平台大规模光通道集成测试内容简单、测试方法单一、测试过程操作复杂等一系列问题。
申请人：中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所
地址：710000 陕西省西安市锦业二路15号
国籍：CN
代理机构：中国航空专利中心
代理人：杜永保
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