等厚干涉及其应用
作者:韩悦
来源:《科技风》2016年第20期
摘 要:本文运用波动光学的相关知识进行理论计算,通过分析牛顿环、劈尖这两种常用的等厚干涉产生装置,主要研究了等厚干涉现象形成的原理,同时对以等厚干涉为基本原理的光学测量方面的应用进行了概述。
关键词:等厚干涉;牛顿环;劈尖;曲率微位移 一、光的波动性
从古至今,人类一直在探索光的本质,光与我们的生活息息相关,离开光人类将无法生存。1660年胡克发表了光波动理论,他认为光以波的形式传播,应当会存在机械波具有的性质:干涉与衍射。这一点由托马斯杨在双缝干涉实验中所证实。光的干涉,以及后来发现的光的衍射,成为光的波动说的重要证据。 二、光的干涉
由频率相同(相差恒定)的两光源——相干光源发出的光在空间相遇,才会发生干涉,形成稳定的干涉图样。由于发光过程的量子特性,任何两个独立的光源发出的光都不发生干涉现象。只有采用特殊的分光方法将一束光分为两束,才能获得相干光。如双缝干涉中通过双缝将一束光分为两束,薄膜干涉中通过薄膜两个表面的反射将一束光分为两束形成相干光。除此之外比较常见的光的干涉现象就是等厚干涉。 三、等厚干涉
(一)等厚干涉现象与牛顿环
等厚干涉获得相干光的方法是用分振幅法,同一干涉条纹上各点对应相等的空气层厚度。在两个平面之间存在一个空气气隙,当入射光投射到上平面上时,部分光被反射,部分光透过上平面投射到下平面上被反射后再透过上平面传播。这时两光线叠加互相干涉,叠加处光程差近似为δ=2e+,为光由光疏介质反射到光密介质表面时产生的半波损失。 产生暗纹条件:
厚度相等的地方光程差相等,所以称为等厚干涉。
牛顿环是牛顿在1675年设计的。在一块玻璃平板上放置一块曲率半径较大的平凸透镜,然后用单色光照射,就能观察到一些明暗相间,中间疏、边缘密,圆心在接触点的同心圆环。
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明环半径: 暗环半径:
其中k为牛顿环级数,R为凸透镜曲率半径。 (二)劈尖干涉
把两片平整的玻璃板重叠,然后在其缝隙的一端塞入细丝状物体,两玻璃板之间就产生空气薄层。用单色光垂直照射,分别被空气薄层上、下表面反射的两束光是相干的,干涉条纹是明暗相间的条纹,等间隔且平行于两玻璃板交线。设玻璃板夹角Θ,入射光波长λ,入射点空气薄层厚度h。考虑半波损失,则: 产生明纹条件: 产生暗纹条件:
四、等厚干涉在光学测量中的应用 (一)曲率半径的测量
牛顿环能用来测量透镜的曲率半径。首先利用牛顿环判断透镜表面的凹凸性,将待测透镜表面放置于平面标准件上,然后轻轻按压待测透镜,观察牛顿环的图样变化。若中心有环向外扩展,则空气薄膜厚度减小,那么可以判断待测表面为凸面。反之如中心有环向内收缩,则空气薄膜厚度增大,那么可以判断待测表面为凹面。
按照前面的分析,若已知单色光源波长λ,只需测量第k级暗环半径rk,即可计算平凸透镜的曲率半径R;反之,如果R已知,测出rk就可计算出入射光波长λ。
实际测量的条件并不是理想的。事实上,透镜的凸面和玻璃平面点接触条件不容易达到,根据广义胡克定律,很小的压应力就会有局部弹性形变出现,这样接触处常常是一个圆面,从而观测到牛顿环中心为暗斑。另外空气间隙层中有尘埃,光程差公式就会附加影响项。假设附加影响为a,则光程差Δ=2(e+a)+。 代入暗纹条件得r2
附加影响项a不能直接测量,通常采用取两个暗环半径的平方差的方式使之抵消。 第m环和第n环对应半径为: 两式相减得:
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计算出透镜的曲率半径:
考虑到实际确定牛顿环的中心有难度,所以测量的是各个环的直径: 只要测出暗环的直径,就可以计算出透镜曲率半径的值。
常用的玻璃样板检验光学元件表面质量的方法,就是利用与牛顿环相类似的干涉条纹,条纹形成在样板表面和待检元件表面之间的空气层上,称为“光圈”。根据光圈的形状、数目以及用手加压后条纹的移动,就可检验出元件的偏差。
用一样板覆盖在待测件上,若两者完全密合,即达到标准值要求,不出现牛顿环。若被测件曲率半径不等于标准值,则产生牛顿环。圆环条数越多,误差越大;若条纹不圆,则说明被测件曲率半径不均匀。此时,给样板施加一个均匀的小压力,必然缩小牛顿环各处空气隙的厚度,减少了光程差,导致条纹移动。若条纹向边缘扩散,说明零级条纹在中心,被测件曲率半径小于标准件;若条纹向中心收缩,说明零级条纹在边缘,被测件曲率半径大于标准件。通过现场检测,及时判断,再对不合格元件进行相应精加工研磨,直到合乎标准为止。 (二)微小位移的测量
利用劈尖干涉可以进行微小位移的测量,如用劈尖干涉测量头发丝的直径。设玻璃板的长度为L,头发丝直径为d,将头发丝垫入两个玻璃板之间,此时两个玻璃板的夹角为Θ,则由几何关系得d=Ltanθ。
根据前面计算得到两条明纹或两条暗纹之间的距离Δl= 在Θ角非常小时有以下近似:
已知入射光波长λ,测出△l和L,就可计算出头发丝的直径D。
利用此方法能测量某些部件的平整度。在判断金属部件的平整度的时候,将其作为劈尖下底面,观察干涉图样,可以由干涉图形的凹凸性来分析金属部件平板的凹凸性。当平面平整时,厚度均匀变化,干涉条纹应当是平滑的直线,在显微镜下非常清晰。如果观察到出现下凹的现象,那么根据条纹是等厚点的轨迹,下凹处厚度增加,此处厚度等于比此处远离劈棱的地方的厚度,说明此处部件有凹坑。如果观察到出现上凸的现象,那么根据条纹是等厚点的轨迹,上凸处厚度减小,此处厚度等于比此处靠近劈棱的地方的厚度,说明此处部件有凸台。 参考文献:
[1] 赵凯华编著.高等教育出版社.新概念物理教程《光学》.2004. [2] 徐宝玉.劈尖干涉理论及其应用.黑龙江科技信息,2011.
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[3] 刘海增,靳晋中.牛顿环现象及其应用.郑州轻工业学院学报,2003. 作者简介:
韩悦(2000-),汉族,鲁山一高高三学生,学习成绩优异,爱好钻研物理类课题。
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