专利名称：一种电子产品老化检测用自动测试机专利类型：发明专利发明人：贝明
申请号：CN201910539529.3申请日：20190621公开号：CN111175592A公开日：20200519
摘要：本发明公开了一种电子产品老化检测用自动测试机，包括机架，所述机架连通有低温管道，所述低温管道的下端贯穿密封罩，所述密封罩内设置有测试机构，所述测试机构的一侧设置有不合格产品回收机构，所述测试机构的后侧设置有CCD耦合机构，所述密封罩的左侧设置有上料机构，所述密封罩的右侧设置有下料机构，所述上料机构和下料机构结构相同，所述机架的内部上端安装有电源，所述电源电性连接有光谱仪，所述光谱仪安装在机架的内部顶端，所述电源电性连接有电脑控制屏，所述电脑控制屏安装在机架的一侧外端。通过上述结构实现对电子产品老化测试的自动上料，检测下料，并对不合格产品自动取出并进行收集，自动化程度高。
申请人：贝明
地址：523000 广东省东莞市石碣镇裕田路1号王洲湾1号花园6号楼1802
国籍：CN
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