专利名称：金属接触电阻测试方法和测试回路专利类型：发明专利
发明人：聂永杰,许博文,赵现平申请号：CN202010402442.4申请日：20200513公开号：CN111426883A公开日：20200717
摘要：本申请公开一种金属接触电阻测试方法和测试回路，所述方法包括：在待测接触金属的两端分别接入限流电阻，通入特定电压，形成闭合回路，利用霍尔元件感应接触电阻的磁场分布，并根据霍尔电压和电流，计算得到接触电阻处的磁场强度；然后根据磁场强度及霍尔元件的参数，得到接触电阻上的电流分布，当测量金属接头处的接触电阻时，根据待测接触金属两端的电压和接触电阻上的电流分布，计算接触电阻；当测试金属接头之间的接触电阻时，则根据待测接触金属两端的电压和回路电流获得所述闭合回路的总电阻，并根据总电阻以及限流电阻的阻值，计算接触电阻。采用前述的方法，可准确的测试接触金属的接触电阻值分布情况，提高了金属接触电阻测试准确性。
申请人：云南电网有限责任公司电力科学研究院
地址：650217 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
国籍：CN
代理机构：北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)
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