专利名称：大气中子诱发的FPGA器件失效率检测方法和系统专利类型：发明专利
发明人：张战刚,雷志锋,何玉娟,彭超,师谦,黄云,恩云飞申请号：CN201711365090.4申请日：20171218公开号：CN107942174A公开日：20180420
摘要：本发明涉及电子器件辐射效应领域，特别是涉及一种大气中子诱发的FPGA器件失效率检测方法和系统，通过对FPGA阵列进行大气中子单粒子效应检测，获取FPGA阵列的大气中子单粒子效应检测的测量数据；获取所述FPGA阵列中FPGA器件的数量；根据所述测量数据以及所述FPGA器件的数量获取FPGA器件失效率。在此方案中，所述测量数据为对FPGA进行大气中子单粒子效应检测后获得的数据，所述测量数据能够提高大气中子单粒子效应下的获取的FPGA器件失效率的准确度，从而实现FPGA器件大气中子单粒子效应敏感性的准确定量评价，解决我国目前FPGA器件大气中子单粒子效应评价方法缺失的难题。
申请人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所
地址：510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号
国籍：CN
代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：刘艳丽
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