专利名称：一种芯片功能测试系统专利类型：实用新型专利发明人：雒兴明,张薇,刘刚申请号：CN201721236470.3申请日：20170926公开号：CN207541213U公开日：20180626
摘要：一种芯片功能测试系统，包括：芯片接入部，实现待测芯片与所述芯片功能测试系统之间的电通信；单片机模块，根据待测芯片的输出脉冲，控制指示器的点亮和熄灭；以及指示器，根据单片机模块输出的控制信号，指示待测芯片的输出脉冲是否正常。
申请人：北京锐达芯集成电路设计有限责任公司
地址：101111 北京市大兴区经济技术开发区科创十四街99号33幢D栋二层2192号
国籍：CN
代理机构：北京正理专利代理有限公司
代理人：付生辉
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