专利名称：一种测量被测器件噪声系数的方法和装置专利类型：发明专利发明人：彭宇锋
申请号：CN201510474016.0申请日：20150805公开号：CN106443220A公开日：20170222
摘要：本发明实施例公开了一种测量被测器件噪声系数的方法，包括：获取被测器件扩展电路的噪声系数；所述被测器件扩展电路包括被测器件和被测器件通路，所述被测器件通路包括设置在所述被测器件任意一个输入端口或任意一个输出端口的第一阻抗匹配网络；获取所述被测器件通路的插入损耗；基于所述被测器件扩展电路的噪声系数和所述被测器件通路的插入损耗，得出所述被测器件的噪声系数。本发明实施例还公开了一种测量被测器件噪声系数的装置。
申请人：深圳市中兴微电子技术有限公司
地址：518085 广东省深圳市盐田区大梅沙1号厂房
国籍：CN
代理机构：北京派特恩知识产权代理有限公司
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