专利名称：基于纳米光刻光盘的偏振平衡测量读取方法及装置专利类型：发明专利发明人：王中阳,张力
申请号：CN201910093645.7申请日：20190130公开号：CN111508534A公开日：20200807
摘要：本发明提供一种基于纳米光刻光盘的偏振平衡测量读取方法及装置。通过采用纳米光刻方法进行超高密度光盘存储信息刻写，采用双折射刻写记录材料进行信息存储，采用光致双折射记录材料进行可擦除信息存储，可实现纳米光刻光盘的可擦除多次重复信息记录。读取方法则包括：偏振平衡测量读取方法进行光盘信息读取；采用数字信息编解码方法可实现光盘的多维存储信息的快速读取。本发明有利于缩小信息记录点的尺寸与间距，提升光盘的存储密度,实现光盘存储信息的稳定、长久存储，以及对超高密度光盘存储信息的有效、高速提取。
申请人：中国科学院上海高等研究院
地址：201210 上海市浦东新区海科路99号
国籍：CN
代理机构：上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人：高彦
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