专利名称：一种基于光学条纹投影和反射的三维形貌测量方法
及装置
专利类型：发明专利发明人：张宗华,刘小红,高楠申请号：CN201810900158.2申请日：20180809公开号：CN108759721A公开日：20181106
摘要：本发明公开了一种基于光学条纹投影和反射的三维形貌测量方法及装置。该装置包括电脑、可见光投影仪、CCD彩色相机、显示屏、待测漫反射物体固定装置和待测镜面反射物体固定装置；所述电脑分别与投影仪、相机和显示屏连接；所述投影仪和相机安装于光学平台上；所述显示屏固定于光学平台的精密水平移动台上；所述投影仪、相机和显示屏位于同一侧，相机位于投影仪和显示屏之间；所述待测漫反射物体固定装置和待测镜面反射物体固定装置放置于光学平台上；相机的光轴分别与显示屏所在平面的法向量和投影仪的光轴之间的夹角成锐角。该方法既能测量漫反射物体、镜面反射物体又能同时测量两种反射性质的物体，实现了柔性测量和集成测量。
申请人：河北工业大学
地址：300130 天津市红桥区丁字沽光荣道8号河北工业大学东院330#
国籍：CN
代理机构：天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：王瑞
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