专利名称：地表粗糙度测量装置及地表粗糙度测量方法专利类型：发明专利发明人：杨习荣
申请号：CN201010100771.X申请日：20100125公开号：CN102135423A公开日：20110727
摘要：本发明涉及地表粗糙度测量装置及地表粗糙度测量方法。一种地表粗糙度测量装置，该测量装置包括处理装置、移动装置、测距装置及支撑装置。所述处理装置用于所述测量装置的系统控制，获得所述测距装置的测量数据，所述移动装置被连接至所述处理装置及所述测距装置，由所述处理装置控制所述移动装置移动，以调整所述测距装置的姿势，所述测距装置用于测量距地表上的特定测量点之间的距离，并且将测得数据传输至所述处理装置，所述支撑装置支撑所述处理装置、所述移动装置和所述测距装置，用于将所述测距装置置于预定高度。本发明实用可行，操作便利，携带方便，适用于野外各种地表粗糙度的测量工作。
申请人：中国科学院遥感应用研究所
地址：100101 北京市朝阳区大屯路甲20号北北京9718信箱
国籍：CN
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