专利名称：一种近红外光谱采样方法专利类型：发明专利发明人：闫晓剑
申请号：CN201711421858.5申请日：20171225公开号：CN108195795A公开日：20180622
摘要：本发明涉及近红外光谱分析技术领域，公开了一种近红外光谱采样方法，实现近红外光谱信号的逐点编程，提高不同类型样品的近红外光谱数据的区分度。本发明首先依据样品的光谱特征和/或光谱仪的光源特征拟合采样函数；当接收到光敏电流数据后，将接收到的光敏电流数据逐点经过拟合的采样函数处理，形成逐点的采样数据；最后基于逐点的采样数据形成近红外光谱。本发明适用于近红外光谱分析。
申请人：四川长虹电器股份有限公司
地址：621000 四川省绵阳市高新区绵兴东路35号
国籍：CN
代理机构：成都虹桥专利事务所(普通合伙)
代理人：吴中伟
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