专利名称：老化测试系统专利类型：实用新型专利
发明人：王斌,沈冲,陈剑晟,羡迪新,陈驰,高建辉申请号：CN201020207502.9申请日：20100527公开号：CN201716396U公开日：20110119
摘要：本实用新型公开了一种老化测试系统，包括具有至少一个老化测试板的老化测试箱、电源模块、报警模块，所述老化测试箱内还具有至少一个加热器，以及至少一个用于检测老化测试温度值的温度检测器，其中，当所述老化测试温度值大于第一设定值时，所述报警模块启动第一报警；当所述老化测试温度值大于第二设定值时，所述报警模块启动第二报警。本实用新型的老化测试系统设置了自保护系统，其可以根据老化测试过程中的异常情况做出不同的报警反应，进一步保护了待老化测试芯片。
申请人：北京新润泰思特测控技术有限公司
地址：100088 北京市海淀区北三环中路31号3号办公楼
国籍：CN
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